ARÉVALO RIVERA, J. A. La tecnología y el efecto Flynn. Revista Universitaria de Informática RUNIN, [S. l.], v. 5, n. 8, p. 10–16, 2019. Disponível em: http://192.68.185.51/revistas/index.php/runin/article/view/5982. Acesso em: 14 abr. 2026.